全漫反射XX射线荧光(TXRF)就是种轻微剖析形式，独特实适用原辅料量小的原辅料，第一次剖析需求原辅料量，液态物料大约μg级，气体原辅料则通常情况下不超100μL。

TXRF受自身的方法限定，产品的样品于玻片上一定要充分满足薄层的标准要求，以彻底消除常见有于EDXRF中的基体关系。于是，其供试品量明星提高，且前处里途径有着明星有所差异。

一般说来，可会根据原材料型态选定适合自己的前外理的方法，且将需求顾虑一下的什么时间的标准：

a.   于样板玻片上行成平均的薄层；

b.   待测种事物及内标种事物均匀的分布不均；

c.   待测种元素的含有；

d.   待测金属营养元素与干拢金属营养元素的离心分离；

e.   阻挠试品饱和溶液发展；

立于及以上情况，TXRF所所采用的前处里既承继了部件较为常见无机物风格测试中的技巧，又开发出了体现了本身自己的特色的前处里办法，如表图：