X射线衍射技术(X-ray diffraction，XRD)是指通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。工作原理：将单色X射线照到晶体样品上，若其中一个晶粒的一组晶面取向和入射X射线夹角为θ时，满足衍射条件，则在衍射角2θ处产生衍射。样品中有多个晶粒并满足衍射。通过使用X射线衍射仪的探测器以一定的角度绕样品旋转，接收到粉晶中不同网面、不同取向的全部衍射线，获得相应的衍射图谱。

X射线衍射技术应用：

（1）当原材料由多种类沉淀材料根据，需区分开各材料所占占比例，可以让用XRD物相认定功能表，研究各沉淀相的占比。（2）一大堆的原料的性能方面由晶粒的情况判断，能使用XRD晶粒度阐述，确定好的原料的晶粒的情况。（3）新材质发掘需要完全掌握材质的晶格因素，适用XRD可快键试验出点阵因素，为新材质发掘应该用提供了效能验正完成指标。（4）物品在在安全使用历程中出显折断、易变型等损坏状况，能够包含外部经济能力上作用，在安全使用XRD不错快捷设置测定法外部经济能力。

（5）纳米材料由于颗粒细小,极易形成团粒,采用通常的粒度分析仪往往会给出错误的数据。采用X射线衍射线线宽法(谢乐法)可以测定纳米粒子的平均粒径。

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